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DSC二次升温测薄膜制品熔点

  • 发表时间:2024-09-30
  • 来源:本站
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DSC二次升温测薄膜制品熔点

薄膜材料在电子、包装、建筑等行业中应用广泛,其热性能参数,尤其是熔点,对材料的应用性能有着重要影响。DSC技术能够提供材料热转变的温度和热焓变化信息,是研究材料熔点的重要工具。

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在进行差示扫描量热法(DSC)测试时,样品的熔点通常通过第二次升温过程来确定。第一次升温主要是为了消除样品的热历史,包括之前加工或保存过程中可能产生的晶体结构或热事件。本实验使用汇诚仪器的差示扫描量热仪DSC-600C对薄膜制品进行二次升温测试熔点。

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首先,制取适量薄膜样品称重后放入铝坩埚中,实验全程通入氮气,流速为50ml/min,防止材料在加热过程中氧化。第一次升温以10℃/min的速率从30℃升到150℃,恒温5min后以相同速率降温到30℃。第二次升温以10℃/min的速率从30℃升到150℃。

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下图利用汇诚仪器的差示扫描量热仪DSC-600C对薄膜样品二次升温实验得到的实测图谱,图中灰色DSC曲线是第一次升温,峰值温度是57.86℃,绿色DSC曲线是第二次升温,峰值温度是60.06℃。

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根据DSC测试结果可知,第一次升温-恒温的目的是消除薄膜材料的热历史,第二次升温得到的峰值温度是该样品的熔融温度,因此该薄膜样品的熔点是60.06℃。

综上所述,DSC技术是测定薄膜材料熔点的有效工具。通过二次升温实验,可以消除材料的热历史效应,得到更为准确的熔点数据。在实际应用中,需要根据材料的特性和实验目的,优化实验条件,以确保测试结果的可靠性。


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